評論(0

X射線光電子能譜儀

標籤:分析儀器

X射線光電子能譜儀
主要用途:  XPS: 1.固體樣品的表面組成分析,化學狀態分析,取樣深度為~3nm 2.元素成分的深度分析(角分辨方式和氬離子刻蝕方式) 3.可進行樣品的原位處理 AES: 1.可進行樣品表面的微區選點分析(包括點分析,線分析和面分析) 2.可進行深度分析適合: 納米薄膜材料,微電子材料,催化劑,摩擦化學,高分子材料的表面和界面研究   
儀器類別:  03030707 /儀器儀錶 /成份分析儀器   
指標信息:  主真空室:1×1010乇 XPS: AES: 解析度:0.8cV 電子槍束斑:75nm 靈敏度:80KCPS 信噪比:大於70:1 角分辨:5°~90° 靈敏度:255KCPS A1/Mg雙陽極靶 能量解析度:0.3% 位置靈敏檢測器(PSD)   
附件信息:  XPS: 1.快速氬離子刻蝕槍 AES: 1.快速氬離子刻蝕槍 2.能量損失譜 ,
主要研究領域包括:(1)TiO2納米光催化以及在空氣和水凈化方面的應用;(2)汽車尾氣凈化催化劑新型金屬載體的研究;(3)納米藥物載體及靶向藥物的研究;(4)納米導電陶瓷薄膜材料的研究;(5)納米雜化超硬薄膜材料及摩擦化學的研究;(6)納米發光材料及納米分析化學研究;(7)有機電致發光材料的表面化學研究;(8)納米材料在香煙減毒凈化上的應用研究;(9)無機納米殺菌與抗菌材料及其在飲用水凈化上的作用;(10)電解水制氧電極材料的研究
上一篇[程序升溫]    下一篇 [酸鹼催化劑]

相關評論

同義詞:暫無同義詞